ULVAC爱发科SW100N真空计新品发布：工业真空测量迎来智能宽量程时代ULVAC爱发科SW100N真空计新品发布：工业真空测量迎来智能宽量程时代2026年4月，成都—作为日本ULVAC（爱发科）经销商，高斯摩国际正式推出爱发科Gatch系列新一代皮拉尼真空计SW100N，全面替代经典老款SW1-N1/SW1-N2，以宽量程、高精度、智能互联、易维护四大核心优势，为半导体、光伏、真空炉、科研实验室等领域提供一站式真空测量解决方案。一、产品升级：从“能用”到“好用”的质变SW...

新品发布！日本TORAY东丽超声波换能器传感器新品发布！日本TORAY东丽超声波换能器传感器一、产品概述TORAY东丽超声波换能器是日本东丽株式会社面向高精度检测与成像领域推出的专业级超声波传感器产品系列。东丽株式会社作为世界的综合性化学制造企业，在材料科学领域拥有雄厚的技术积累，其超声波换能器产品线充分体现了公司材料科学与精密加工技术的深度结合。TORAY超声波换能器主要面向需要高精度和高可靠性的专业应用领域，包括医疗超声诊断设备、超声显微镜和工业无损检测系统。这些设备对超...

新品发布！YAMABUN山文电气TOF-6R001薄膜测厚仪新品发布！YAMABUN山文电气TOF-6R001薄膜测厚仪接触式桌面薄膜和薄膜厚度测量系统用于质量控制和研发模型TOF-6R001方法接触类型目标薄的高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）原理线性规范产品特性操作简单快捷测量数据的实时显示在屏幕上自动将测量数据保存到电脑上由于自动馈送，测量数据无个体差异使用蛛网图调整吹片立即通过安装在Windows电脑中来使用厚度测量系统产品规格测量范围5~100微米测量长度1...

新品发布！YAMABUN山文电气TOF-5R01薄膜测厚仪新品发布！YAMABUN山文电气TOF-5R01薄膜测厚仪接触式桌面薄膜和薄膜厚度测量系统用于质量控制和研发模型TOF-5R01方法接触类型目标电影原理线性规范产品特性操作简单快捷测量数据的实时显示在屏幕上自动将测量数据保存到电脑上由于自动馈送，测量数据无个体差异使用蛛网图调整吹片立即通过安装在Windows电脑中来使用厚度测量系统产品规格测量范围0.02~0.2毫米测量长度10~10000毫米测量音高0.1毫米~最小...

新品发布！YAMABUN山文电气TOF-4R05薄膜厚度测量仪新品发布！YAMABUN山文电气TOF-4R05薄膜厚度测量仪核心工作原理该系列测厚仪采用非接触式激光扫描测量方式，通过激光传感器对整幅片材进行横向扫描，直接测量材料的物理厚度，而非通过基重进行推算。传感器以最高100毫米/秒的速度扫描，测量宽度最高可达3000毫米，测量间距最小为1毫米，最小显示值精细至0.1微米，满足严苛的精度要求。接触式桌面薄膜和薄膜厚度测量系统用于质量控制和研发模型TOF-4R05方法接触类...

新品发布！OSI王子计测BF-9D+BF-48AS高精度分析仪新品发布！OSI王子计测BF-9D+BF-48AS高精度分析仪生物传感器系统（配自动进样器）双成分同时测定用BF-9D+BF-48AS（※转盘式自动取样器）应用领域广泛应用于发酵、食品、医药、化工、生物炼制等领域的研发与品质管理。其他适用于细胞培养的多成分测定机型4成分同时测定用BF-9M6成分同时测定用BF-8M测定对象多样更换电极后，可测定40种以上水溶性化合物，灵活应对不同检测需求。高速测定采用流动注射分...

新品发布！日本Yamabun山文电气TOF-C2非接触式测厚仪新品发布！日本Yamabun山文电气TOF-C2非接触式测厚仪桌面离线电容类型厚度测量系统模型TOF-C2方法电容类型（非接触式）目标粘性保护膜，即容易吸附灰尘的薄膜原理电容产品特性非接触式基重测量操作简便产品规格测量范围~500微米测量长度10~10000毫米测量音高1毫米~最小显示值0.01微米电源交流电100~240V50/60Hz环境温度5~40°C（温差：1°C以内）湿度35~80%（无凝结）核心工作原理...

新品发布!新品发布!本公司的MCPDseries，由于采用柔软纤维的事，从In-Situ到内联各种各样的地方和用途的编入成为可能。测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。通过采用独自算法，可以高速实时监控。简介特点及产品介绍●膜厚测量范围65nm～92μm（换算为SiO2）●最短曝光时间1ms~※根据规格●由于是柔性纤维光学系统，容易组装到半导体工艺装置中●可从上层远程控制●适合于研磨中膜厚终点检测MCPD-9800仕様型号MCPD-980022...

我司近期新代理品牌美国MW真空波纹管简介：MWComponents的三个金属波纹管制造工厂（Servometer、Ameriflex和BellowsTech）生产全系列的金属波纹管和波纹管组件，包括用于各种行业的真空波纹管——从航空航天和国防到高真空应用。我们的金属波纹管采用三种技术生产-电沉积、液压成型和边缘焊接。我们的工程专家很乐意与您的团队合作，确定金属波纹管的适当生产方法，同时考虑您的应用要求、必要的规格、时间表和预算。MWComponents将高质量的制造和数十年的...

近期我司新推出日本otsuka大塚电子DLS-8000DL/DH粒度光度计近期我司新推出日本otsuka大塚电子DLS-8000DL/DH粒度光度计选项φ5微型电池/电池支架使用少量样品（50μL及以上）即可进行测量。φ30电池/电池支架在低角度测量分子量或小颗粒时，它可以抑制杂散光。偏振元件（光接收侧，光入射侧）通过测量和分析散射强度的偏振分量，可以获得有关结构各向异性的信息。差示折射率(dn/dc)测量DRM-3000差示折射率(dn/dc)测量DRM-3000样品过滤试...

近期我司新推出日本otsuka大塚电子LE-5400高速光谱分析仪近期我司新推出日本otsuka大塚电子LE-5400高速光谱分析仪该设备可通过与生产线控制信号同步，高速在线评估LED的光学特性。LE-5400提供质量控制所需的光学特性信息，例如不合格品判断和分类。特征可与生产线控制信号同步光纤使得测量系统更加灵活。频谱测量仅需2毫秒（LE-5400）还有一种高速型产品，其测量、计算和评估的整个周期所需时间不到传统产品的一半。*请联系我们了解更多详情。测量项目三刺激值（kX、...

新品发布!日本otsuka大塚电子QE-2100量子效率测量器新品发布!日本otsuka大塚电子QE-2100量子效率测量器近期我司新推出日本otsuka大塚电子QE-2100量子效率测量器可即时测量绝对量子效率（绝对量子产率）。兼容粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品。低杂散光多通道光谱检测器显著降低了紫外区域的杂散光。采用积分半球单元实现了高亮度光学系统，并利用这一优势进行再激发荧光校正，从而实现高精度测量。此外，还可以测量量子效率的温度依赖性，并覆盖从紫外到近红外的宽波长...