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新品发布! 日本otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器

更新时间:2026-04-07      浏览次数:14

新品发布! 日本otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器

新品发布! 日本otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器


近期我司新推出日本otsuka大塚电子 QE-2100 量子效率测量器

 

可即时测量绝对量子效率(绝对量子产率)。兼容粉末、溶液、固体(薄膜)和薄膜样品。低杂散光多通道光谱检测器显著降低了紫外区域的杂散光。采用积分半球单元实现了高亮度光学系统,并利用这一优势进行再激发荧光校正,从而实现高精度测量。此外,还可以测量量子效率的温度依赖性,并覆盖从紫外到近红外的宽波长范围。

 

 产品信息

特征

致力于高精度测量

瞬时测量 量子效率( 量子产率)

可以去除再激发荧光。

采用积分半球单元可实现高亮度光学系统。

采用低杂散光多通道光谱探测器可显著降低紫外区域的杂散光。

温度控制功能(50 至 300°C)可测量量子效率(量子产率)的温度依赖性

支持从紫外到近红外(300至1600纳米)的宽带规格

注重操作简便性

使用专用软件操作简便

样品测量池易于安装和拆卸。

节省空间且设计紧凑

通过使用光谱仪型激发光源,可以选择任意波长的光。

通过在软件中指定激发波长和步长值,可以实现自动测量。

注重多功能性

适用于粉末、溶液、固体(薄膜)和薄膜样品

广泛的分析功能

测量项目

量子效率(量子产率)测量

激发波长依赖性测量

发射光谱测量

PL激发光谱测量

激发发射矩阵 (EEM) 测量

目的

LED和有机电致发光荧光粉的量子效率(量子产率)测量

测量薄膜样品(例如用于远程荧光粉的荧光粉样品)透射和反射荧光的量子效率(量子产率)。

量子点、荧光探针、生物场、包合物等的荧光测量。

染料敏化太阳能电池量子效率(量子产率)的测量

复杂化合物的测量

高精度的原因

1. 具有积分半球的理想光学系统

QE-2100 配备有积分半球。与积分球(全球)相比,积分半球具有以下优点:

由于非发光部分(支架等)可以暴露在外,因此可以最大限度地减少自吸收,从而实现理想的光学系统。

该镜子使同一点的照度加倍,从而可以进行高度灵敏的测量。

样品测量池可以很容易地安装和拆卸,从而降低损坏积分球内部的风险。

2. 利用再激发荧光校正函数观察“真实物理性质"

当考虑再激发荧光时,观测到的并非材料的物理性质,而是器件的特性,因此无法确定材料的真实物理性质。QE-2100 利用积分半球的优势来补偿再激发荧光,从而实现简单而高精度的测量。

3. 低杂散光多通道光谱探测器可减少紫外范围内的杂散光

传统探测器(多色仪)在紫外区域会检测到大量杂散光,因此不适用于测量量子效率(量子产率)。大塚电子通过开发杂散光消除技术解决了这一问题。QE-2100 中安装的多通道光谱探测器与我们之前的产品相比,杂散光量减少了约五分之一,即使在紫外区域也能进行高精度测量。

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