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测厚仪

测厚仪
直接测厚,不受材质影响。 采用激光类型/参考辊法测量原理,直接获取厚度数据,不受片材材质、颜色、图案或表面状态的影响,对泡沫片材、多孔片材同样适用。

  • 产品型号:TOF-C2
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-04-25
  • 访  问  量:22
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产品详情

测厚仪  测厚仪 

测厚仪 





在塑料薄膜与片材的生产过程中,厚度均匀性是衡量产品质量的核心指标之一。日本YAMABUN山文电气作为专注薄膜及片材测厚系统制造的专业厂商,自1971年创业以来已深耕该领域超过三十年,累计出货量位居日本塑料行业,其研发的非接触式在线激光测厚装置NME-RM及NSM-RM,正是为PP、PS、多层薄膜及各类片材量身打造的高精度品质管控方案。

核心工作原理

该系列测厚仪采用非接触式激光扫描测量方式,通过激光传感器对整幅片材进行横向扫描,直接测量材料的物理厚度,而非通过基重进行推算。传感器以最高100毫米/秒的速度扫描,测量宽度最高可达3000毫米,测量间距最小为1毫米,最小显示值精细至0.1微米,满足严苛的精度要求。

技术亮点

直接测厚,不受材质影响。 采用激光类型/参考辊法测量原理,直接获取厚度数据,不受片材材质、颜色、图案或表面状态的影响,对泡沫片材、多孔片材同样适用。

全宽扫描,数据一目了然。 传感器对全幅宽度进行扫描测量,往返行程的厚度分布以趋势图形式显示在专用监视器上,同时呈现最大值、最小值、平均值及标准偏差,片材的整体厚度状态一目了然。

操作简便,自动监控。 无需办理许可证或创建校准曲线,只需启动设备即可完成全宽自动测量。配备自动厚度监控功能,当厚度超过设定标准值时自动发出警报,帮助操作人员及时发现异常并调整。

关键参数与应用领域

该系列测厚仪测量厚度上限为3毫米,片材通过间隙约3.5毫米,适用于线速度200米/分钟以下的生产线,电源为三相200V 50/60Hz,可在5至40℃的环境温度下稳定运行。

除了PP、PS等通用塑料,还可测量不导电塑料、橡胶、PVC、PET等材料。其应用场景已从传统塑料薄膜、片材制造,拓展至太阳能电池封装膜、锂离子电池电极片、多层复合材料及含填充剂的片材等高附加值领域,为各类精密材料生产提供可靠的在线厚度管控。




桌面离线电容类型厚度测量系统

对于软薄膜

模型TOF-C2

方法电容类型(非接触式)

目标粘性保护膜,即容易吸附灰尘的薄膜

原理电容



产品特性

非接触式

基重测量

操作简便

产品规格

测量范围~500微米

测量长度10~10000毫米

测量音高1毫米~

最小显示值0.01微米

电源交流电100~240V 50/60Hz

环境温度5~40°C(温差:1°C以内)

湿度35~80%(无凝结)


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