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新品发布! otsuka大塚电子 LE -5400 高速光谱分析仪

更新时间:2026-04-07      浏览次数:10

近期我司新推出日本otsuka大塚电子 LE -5400 高速光谱分析仪

近期我司新推出日本otsuka大塚电子 LE -5400 高速光谱分析仪

该设备可通过与生产线控制信号同步,高速在线评估LED的光学特性。LE
-5400提供质量控制所需的光学特性信息,例如不合格品判断和分类。

特征

可与生产线控制信号同步

光纤使得测量系统更加灵活。

频谱测量仅需2毫秒(LE-5400)

还有一种高速型产品,其测量、计算和评估的整个周期所需时间不到传统产品的一半。

*请联系我们了解更多详情。


测量项目

三刺激值(kX、kY、kZ)*[JIS Z 8724]

色度坐标(u,v)[JIS Z8725]

色度坐标(x,y)[JIS Z 8724]

色度坐标(u',v')[JIS Z8781-5]

主导波长(主导)和刺激纯度(纯度)[JIS Z8781-3]

相关色温和 Duv[JIS Z 8725]

显色指数(Ra,R1 至 R15)[JIS Z 8726]

峰值(λmax)波长、高度和半峰宽

第二个峰的波长和高度

积分值(求和)

质心波长

指定波长的高度

短波长侧和长波长侧的积分值均大于峰值波长

* 亮度 (kY) 值取决于被测 LED 和探测器之间的光学系统,并且

  仅在对准(距离、位置、方向)可重复时有效

规格

规格

模型LE系列

类型一个BCDE

测量波长范围380-960纳米220至800纳米330至1100纳米350至930纳米800至1000纳米

方法光栅光谱法

光谱仪F = 3,f = 135mm

 格栅炫彩全息型

探测器热电冷却式CCD图像传感器

纤维 *1长度:约 2 米,底座直径:约 12 毫米,

LED 距离:通常为 2 毫米至 8 毫米(取决于 LED 的方向特性)

功耗最高可达100VA

身体和体重尺寸:280(宽)× 160(高)× 296(深)毫米,重量:约10公斤

*1 形状和长度可以改变。



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