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更新时间：2026-04-24 
浏览次数：4新品发布！ YAMABUN山文电气 TOF-4R05 薄膜厚度测量仪
新品发布！ YAMABUN山文电气 TOF-4R05 薄膜厚度测量仪
核心工作原理
该系列测厚仪采用非接触式激光扫描测量方式，通过激光传感器对整幅片材进行横向扫描，直接测量材料的物理厚度，而非通过基重进行推算。传感器以最高100毫米/秒的速度扫描，测量宽度最高可达3000毫米，测量间距最小为1毫米，最小显示值精细至0.1微米，满足严苛的精度要求。
接触式桌面薄膜和薄膜厚度测量系统
用于质量控制和研发
模型TOF-4R05
方法接触类型
目标胶片，片
原理线性轨距（2件）
产品特性
操作简单快捷
测量数据的实时显示在屏幕上
自动将测量数据保存到电脑上
由于自动馈送，测量数据无个体差异
使用蛛网图调整吹片
立即通过安装在Windows电脑中来使用厚度测量系统
产品规格
测量范围0.03~3毫米
测量长度10~10000毫米
测量音高1毫米~
最小显示值0.5微米
测量力0.6±0.1 N
电源交流电100~240V 50/60Hz
环境温度5~40°C
湿度35~80%（无凝结）
功耗50 VA（不含计算机）
选项·个人电脑
·各种接触芯片
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