新品发布！日本 Yamabun 山文电气 TOF-C2 非接触式测厚仪

更新时间：2026-04-21

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桌面离线电容类型厚度测量系统

模型TOF-C2

方法电容类型（非接触式）

目标粘性保护膜，即容易吸附灰尘的薄膜

原理电容

产品特性

非接触式

基重测量

操作简便

产品规格

测量范围~500微米

测量长度10~10000毫米

测量音高1毫米~

最小显示值0.01微米

电源交流电100~240V 50/60Hz

环境温度5~40°C（温差：1°C以内）

湿度35~80%（无凝结）

核心工作原理

该系列测厚仪采用非接触式激光扫描测量方式，通过激光传感器对整幅片材进行横向扫描，直接测量材料的物理厚度，而非通过基重进行推算。传感器以最高100毫米/秒的速度扫描，测量宽度最高可达3000毫米，测量间距最小为1毫米，最小显示值精细至0.1微米，满足严苛的精度要求。

技术亮点

直接测厚，不受材质影响。 采用激光类型/参考辊法测量原理，直接获取厚度数据，不受片材材质、颜色、图案或表面状态的影响，对泡沫片材、多孔片材同样适用。

全宽扫描，数据一目了然。 传感器对全幅宽度进行扫描测量，往返行程的厚度分布以趋势图形式显示在专用监视器上，同时呈现最大值、最小值、平均值及标准偏差，片材的整体厚度状态一目了然。

操作简便，自动监控。 无需办理许可证或创建校准曲线，只需启动设备即可完成全宽自动测量。配备自动厚度监控功能，当厚度超过设定标准值时自动发出警报，帮助操作人员及时发现异常并调整。

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新品发布！ 日本 Yamabun 山文电气 TOF-C2 非接触式测厚仪