JFE川铁 超声波测厚仪 TI-120T
测厚仪（Thickness Gauge）是一种用于精确测量材料厚度的专业仪器，广泛应用于工业生产、质量控制和科研实验等领域。

JFE川铁 超声波测厚仪 TI-120T

JFE川铁 超声波测厚仪 TI-120T

测厚仪（Thickness Gauge）是一种用于精确测量材料厚度的专业仪器，广泛应用于工业生产、质量控制和科研实验等领域。它能够快速、无损地检测金属、塑料、玻璃、涂层等各种材料的厚度，是保证产品质量、控制生产工艺的重要工具。现代测厚仪采用多种测量原理，可适应不同材质和测量环境的特殊需求。

在小巧的机身中配备了多种功能。 这是一款具有大数据存储器的测厚仪。

特长

（1） 数据记忆功能

最多可存储 10,000 个数据点。

（2） 与个人计算机的数据通信功能

您可以通过连接 USB 电缆将测量数据传输到计算机。

（3） 差值显示、上下限报警功能

输入的参考值与测量值之间的差异以厚度 （mm） 和比率 （%） 显示。 如果您设置了上下限警报值，蜂鸣器将响起。

（4） 统计处理

您可以对测量值的最大值、最小值、平均值和标准差进行统计处理。

（5） 多才多艺

配备专用测量模式和灵敏度 （GAIN） 切换功能，可以稳定测量管道、铝、树脂等。

（6） 声速记忆功能

除了标准的 10 种音速外，还可以自由注册 5 种音速。

测厚仪的主要类型及特点

超声波测厚仪

特点：利用超声波在材料中的传播时间差计算厚度

优势：适用于金属、塑料、陶瓷等多种材料

特殊功能：可测量多层材料、带涂层材料

磁性测厚仪

特点：基于磁感应原理测量非磁性涂层在磁性基体上的厚度

优势：专用于钢铁基材上的油漆、镀层测量

测量范围：通常0-2000μm

涡流测厚仪

特点：利用电磁感应原理测量非导电涂层在导电基体上的厚度

优势：适用于铝、铜等有色金属基材上的涂层测量

特点：不受表面油污、灰尘影响

X射线测厚仪

特点：利用X射线荧光原理测量极薄镀层

优势：可测量纳米级镀层厚度

应用：电子元器件、半导体行业

激光测厚仪

特点：非接触式测量，利用激光三角测量原理

优势：适合高温、易变形材料

精度：可达微米级

测厚仪作为现代工业检测的重要工具，其技术发展日新月异。从传统的接触式测量到现在的非接触式、智能化测量，测厚仪正朝着更高精度、更强功能和更便捷操作的方向发展。未来随着新材料和新工艺的不断涌现，测厚仪将在更多领域发挥关键作用，为产品质量控制和生产工艺优化提供可靠保障。选择合适的测厚仪并正确使用，对提高生产效率、保证产品质量具有重要意义。